一、本章概述
本章节对目前单通道的读写功能进项测试，主要验证读写的数据是否正确，并观察该工程可以存储的最大容量。通过空满信号进行读写测试，根据ila抓取fifo和ddr4全部满的时刻，可以观察到最大容量。再通过debug逻辑可以测试读写数据是否正确。
二、DDR4循环读写功能测试
我们实现的功能是，只要fifo_1不满就可以往里存入数据，fifo_2不空就可以读出数据。所以只要根据fifo_1的几乎满（wrfifo_almost_full）信号为低电平状态就可以控制数据写入，根据fifo_2d的空（rdfifo_empty）信号为低电平状态就可以控制数据输出。
1、写入数据测试代码：
Image
Image
Image
通过vio控制数据何时读取，也可以通过empty的状态观察到fifo_1、fifo_2、ddr中是否含有数据。如果写入的数据和读取的数据不相同，error_1就会拉高，可以通过error_1的状态判断ddr循环读写的功能是否正确。
三、上板验证过程
将板卡上电并烧入bit文件与ltx文件。
Image
图1中vio_2控制何时开始写入，为1时开始写入递增数据。
图2中vio_1控制何时开始读数据，为1时开始读出数据。
测试时，首先vio_2控制rst_1拉高，抓取数据存满的时刻。
Image
图3中，红线位置为写入数据后，fifo_1，fifo_2和ddr4全部存满数据的时刻。之后，拉低rst_1，再控制vio_1拉高read_1，抓取数据读取完的时刻。
Image
图4中，可以看到，读出的数据数量和存入的数据数量相等，并且可以观察到，测试工程中可以存储的数据数量为ddr4的最大存储量加上两个fifo的存储量。
