<font color="#FF8000">作者：James Karp、Michael J. Hart、Wai Kooi Wong、Krimo Semmoud、Desmond Yeo</font>
赛灵思 ESD 白皮书 WP433 [参考资料 1] 总结了半导体行业的规模化趋势“摩尔定律”如何导致组件级 ESD 抗扰性的降低。从 28nm 7 系列器件开始，赛灵思 FPGA 的 ESD 抗扰性比前几代降低了约50%。为了补偿和减轻这种 ESD 规模效应，客户在他们的生产现场引入了更严格的 ESD 控制环境。尽管如此，应用 ESD 环境仍毫无改善。
