作者：Peter Zhou，AMD赛灵思开发者
问题背景：
在MPSoC上电时硬件的Scan Clear和MBIST会执行，根据UG1085 Chapter39 System Test and Debug章节，MBIST_DONE寄存器是只读的，表明了测试已完成，MBIST_GOOD寄存器也是只读的，表明了测试的结果。但是用户在上电后去读这两个寄存器却发现这两个值为0，是否表明测试没有完成或者测试失败了呢？
这个问题会有些疑惑，需要深入分析，本文讲述了如何对上述情况进行分析，以便用户能更好的理解Scan Clear和MBIST的功能。
情况分析:
根据UG1085 Chapter39 System Test and Debug章节描述，PMU有一些全局寄存器被用于控制和设置MBIST memory控制器的状态。有五个控制和状态寄存器的，分别是：
MBIST_RST 控制着reset信号，可以读写；
MBIST_PG_EN 控制着PG_EN信号，可以读写；
MBIST_SETUP 控制着setup信号，可以读写；
MBIST_DONE 表明test已经完成，只读；
MBIST_GOOD 表明test结果，只读；
如果要开始MBIST的操作，则需要设置全部的三个控制寄存器，即MBIST_RST、MBIST_PG_EN、MBIST_SETUP，当MBIST操作完成后，软件会清除这三个bit的所有trigger寄存器。MBIST_DONE bit将拉高置1，MBIST_GOOD提供了Test操作状态的查询功能：0表示failure，1表示success。MBIST_DONE和MBIST_GOOD都是只读寄存器，并且当上述三个控制寄存器的trigger寄存器被硬件清除的时候，硬件也会自动清除这两个状态只读寄存器。
这样就会导致用户读这两个状态寄存器的时候，读出来的是0.
我们确认了MBIST_DONE和MBIST_GOOD信号是在boot ROM阶段被清除的。 所以即使你在上电时，在FSBL的刚开始的阶段打印出这两个状态寄存器的值，打印的结果依然会是0. 因为MBIST_DONE和MBIST_GOOD信号是在boot ROM阶段被清除了。
但是，同时我们会在MBIST 发生failure的时候，将MBIST 或者Scan Clear的error信息上报到PMU_GLOBAL_.ERROR_STATUS_2寄存器的PB_ERR bit中去。那么，因为设置了PB_ERR这个bit，所以boot up的行为就取决于PBR_BOOT_ERROR EFUSE这个寄存器了，而且PS_ERROR_OUT信号需要assert。
注意，MBIST的failure不会挂住boot的流程，除非有一个特殊的eFUSE寄存器被设置了，ROM的boot流程将跳过error并继续跑下去，要想在此error发生时停止boot流程的唯一方式是要设置好 PBR_BOOT_ERROR 这个eFUSE寄存器。
同时请注意，与MBIST error相关的bit在ERROR_EN_2 enable的情况下，对应于的ERROR_STATUS_2 bits的寄存器中，此bit会在boot ROM中被设置的。
ERROR_STATUS_1 和 ERROR_STATUS_2 bits 的介绍，请参考 UG1085 Table 6-12.
ERROR_STATUS_2[25] PMU ROM code experienced an error during the preboot process.
这个bit25的error，即表明了PMU在ROM code的preboot的执行阶段，遇到了一个error，用户可以观察此error，来间接表明是否有MBIST或Scan clear的error发生。
这样一来，文章开头所述的疑惑就可以很清楚了。不必以MBIST_DONE和MBIST_GOOD为判断依据，而是应该以ERROR_STATUS_2[25]为判断依据。
