缺陷检测加速应用概述
judy 在 周二, 12/28/2021 - 15:03 提交
缺陷检测加速应用是一种机器视觉应用,可使用 Xilinx Vitis 视觉加速计算机视觉功能库自动检测缺陷、产品(例如水果、PCB)的成熟度以及在高速工厂管道中进行分类。
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许多具有ASIC设计背景的Xllinx用户转向使用FPGA。这些工程师习惯于使用命令行模式下的工具流程,并希望在FPGA设计中继续使用类似的流程。
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在Vitis HLS 工具中,要真正完成AXI总线突发,我们需要一个合适的代码风格并结合恰当的指令设置来达到这个目的。本章节带大家看看如何玩转AXI总线突发读写的代码风格-上。
使用Jtag Master调试FPGA程序时用到tcl语言,通过编写tcl脚本,可以实现对FPGA的读写,为调试FPGA程序带来极大的便利,下面对FPGA调试过程中常用的tcl语法进行介绍,并通过tcl读FIFO的例子,说明tcl在实际工程中的应用。
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