All node

【干货分享】解决ZDMA应用例子xzdma_simple_example.c的“ZDMA Simple Example Failed”问题

ZDMA应用例子xzdma_simple_example.c 缺省只运行一次。在XZDma_SimpleExample()里的XZDma_SelfTest( )之后,把运行部分放进一个循环体,可以多次运行。测试工具是Xilinx SDK 2018.2.

在JTAG下载器连接时FPGA不加载flash里的程序

最近群里有很多人遇到上述的情况,一直觉得不可思议,以前没有遇到这种情况,如果是很常见的情况,那官网一定有人反馈,如果是极特别的情况,那么也就只能按照BUG处理了。很幸运,官网有很多人反馈类似的问题,先把问题和解决方式放出来:

智能 OCR 解决方案使用 Xilinx Ultrascale+ 和 Vitis AI 进行开发

文本是人类最具智慧、最有影响力的创造之一。文本中所蕴含的丰富、精确的高级语义可以帮助我们理解周遭世界,并用于构建可部署在真实环境中的自主运行解决方案。因此,自然环境下的自动文本读取,也称为场景文本检测/识别或 Photo OCR,已成为计算机视觉领域中关注度和重要性日益提高的研究课题。

VPO “拍了拍你”|不可不知的未来医疗

基于 VPO 的智能医院解决方案不仅可以提高患者护理的品质和整体体验,还可以减轻医护人员的日常工作负担,提升工作效率。随着技术创新与人工智能掀起医疗行业变革,未来医疗正拉开序幕。

Versal AI Core 问鼎 LEAP 金奖

2020 年工程成就计划领导力(LEAP)奖于日前公布。赛灵思 Versal AI Core 系列荣膺嵌入式计算类金奖。LEAP 奖得主由 14 位知名的 OEM 设计工程师和学界专业人士组成的独立评审团选出,评审团成员则由 WTWH Media 的编辑团队选定。评审团先从报名项目中粗筛出入围终选的项目,然后经过仔细严格的最终评审,确定每个类别的奖项得主。

牛!Spartan 系列器件销量破 10 亿!

近日,赛灵思公司再度取得一项里程碑式成就——Spartan 系列器件销量突破 10 亿!这是赛灵思其他产品组合都尚未企及的重要里程碑。作为赛灵思成本优化型产品系列中的旗舰款,Spartan 系列器件始终备受业界青睐,每一代产品都能为工业、消费和汽车应用带来全新的前沿功能,包括任意连接、传感器融合以及嵌入式视觉。

【白皮书】IMG B 系列:多核技术

下载白皮书 《IMG B 系列:多核技术》请先填写下面表单:

【问答】Zynq UltraScale+ MPSoC — 带有 PCS/PMA 内核与外部 PHY 的 SGMII

XAPP1305 提供一个带 PCS/PMA 内核的 SGMII 示例,称之为“PS EMIO SGMII”。它不使用 FPGA 外部的 PHY 设备。对于我的使用案例,我想使用具有 SGMII 接口的外部 PHY 来连接。Linux 只能通过在设备树中设置 phy-handle 的 MDIO 管理一个 PHY。这个系统中有两个 PHY。怎么管理这两个 PHY?

【白皮书下载】IMG B 系列:使用多核 执行更多任务

下载产品介绍中文白皮书 《IMG B 系列:使用多核执行更多任务》请先填写下面表单:

NI 芯片功耗和性能验证解决方案

“市面上没有其他产品能够做到与我们同水平的高精度测量。如果 NI 没有提供这些工具,那么我们就得自行开发这些工具,而这需要多耗费数年的时间。NI 让我们能够专注于最重要的事情。” ——某领先半导体公司的硬件工程师

解决方案概述

如今,人们对电子产品的功耗的要求不断提高,半导体公司正在争相设计低功耗、高能效的产品。为了在紧迫的市场周期内推出更有竞争力的产品,工程师需要快速测量、分析并正确地处理功耗数据。传统台式示波器和数字万用表(DMM)等价格过于昂贵,而且很难根据 Pin 脚或产品线进行扩展,而低成本数据采集解决方案往往精度不足,无法检测到很多像芯片睡眠模式状态下的微小电信号。面对这一进退两难的困境,一些企业选择仅仅对芯片部分功效进行分析,这将导致芯片高功耗、低品质等问题,最终引起市场机会的大量流失。

NI 芯片功耗和性能验证解决方案具有高准确度和高通道数,有助于加快产品上市时间,您可以使用专用仪器和基于配置的软件来快速设置、测量、记录和可视化功耗测量数据。

解决方案的优势

  • 获取可靠且一致的功耗测量结果,为设计提供准确的反馈,帮助客户解决问题以及提高竞争力
  • 体积小巧,具有高可扩展性,可从几个通道扩展到数百个通道
  • 获取针对目标细分市场的洞察,优化功率效率和性能
  • 快速查看有意义的功耗数据,让设计公司应用工程部门甚至客户更早参与进来为系统级验证提供帮助
  • 通过完整的功率测量解决方案,最大限度提升设计和验证团队的效率

填写下面资料↓↓↓即可获取 NI 芯片功耗和性能验证解决方案